重庆住院医师口腔科
一患者缺失，间隙正常，银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是（）A、双端固定桥B、粘结固定桥C、单端固定桥D、直接作可摘局部义齿E、全冠修复后制作可摘局部义齿修复
题目
一患者缺失，间隙正常，银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是（）
- A、双端固定桥
- B、粘结固定桥
- C、单端固定桥
- D、直接作可摘局部义齿
- E、全冠修复后制作可摘局部义齿修复
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相似问题和答案
第1题：
一患者
缺失，间隙约4mm．
银汞充填体，已作牙髓治疗，
位置正常，与下颌对
牙的覆
覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是
缺失，间隙约4mm．银汞充填体，已作牙髓治疗，位置正常，与下颌对牙的覆覆盖关系正常，以下修复设计中最合理的是A.半固定桥
B.
双端固定桥
C.
双端固定桥
D.
全冠修复后制作可摘局部义齿修复
E.直接作可摘局部义齿
B.
双端固定桥
C.
双端固定桥
D.
全冠修复后制作可摘局部义齿修复
E.直接作可摘局部义齿
答案：B
解析：
第2题：
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是（）。
- A、备洞时刺激牙髓
- B、充填时未垫底
- C、流电作用
- D、充填体悬突
- E、充填体高点
正确答案:B
第3题：
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。最可能的原因是A、备洞时刺激牙髓
B、充填时未垫底
C、流电作用
D、充填体悬突
E、充填体高点
处理应为A、观察
B、脱敏
C、去旧充填体，重新垫底充填
D、牙髓治疗
E、去旧充填体，改其他修复材料充填
参考答案：问题 1 答案：B
问题 2 答案：C
问题 2 答案：C
第4题：
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛处理应为（）。
- A、观察
- B、脱敏
- C、去旧充填体，重新垫底充填
- D、牙髓治疗
- E、去旧充填体，改其他修复材料充填
正确答案:C
第5题：
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。 最可能的原因是（ ）
- A、备洞时刺激牙髓
- B、充填时未垫底
- C、流电作用
- D、充填体悬突
- E、充填体高点
正确答案:B
第6题：
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩(一)，冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛
处理应为
A.去旧充填体，改其他修复材料充填
B.观察
C.牙髓治疗
D.脱敏
E.去旧充填体，重新垫底充填
A.去旧充填体，改其他修复材料充填
B.观察
C.牙髓治疗
D.脱敏
E.去旧充填体，重新垫底充填
答案：E
解析：
第7题：
患者因中龋一次银汞充填后冷热刺激痛，无自发痛。查：充填物完好，叩(-)冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。 处理应为（ ）
- A、观察
- B、脱敏
- C、去旧充填体，重新垫底充填
- D、牙髓治疗
- E、去旧充填体，改其他修复材料充填
正确答案:C
第8题：
患者一侧后牙食物嵌塞，嵌塞后引起疼痛，持续数秒，要求治疗。查：
龋，探敏，叩痛(-)，牙髓温度测验结果正常。治疗应为
A.磨除法
B.再矿化
C.药物治疗
D.银汞直接充填
E.垫底，银汞充填
A.磨除法
B.再矿化
C.药物治疗
D.银汞直接充填
E.垫底，银汞充填
答案：E
解析：
第9题：
患者因深龋一次银汞充填后短期内出现冷热刺激痛，无自发痛。查体：充填物完好，叩（一），冷热测正常牙面时无痛，但测充填体处痛。如诊断为慢性牙髓炎，处理应为（）。
- A、观察
- B、脱敏
- C、安抚治疗
- D、开髓引流
- E、去旧充填体，改其他修复材料充填
正确答案:D
第10题：
女，一22岁，后牙龋坏6年，曾经充填数次。检查：银汞充填体折断。咬合紧，牙髓活力正常，最适合采用的修复治疗方法为（）
- A、MO嵌体
- B、烤瓷全冠
- C、铸造全冠
- D、4/5冠
- E、桩核冠
正确答案:C