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扫描电镜中做形貌观察主要是用()和(),扫描电镜若带有能谱(E.D.S)则可运用特征X射线做()。

题目

扫描电镜中做形貌观察主要是用()和(),扫描电镜若带有能谱(E.D.S)则可运用特征X射线做()。

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第1题:

SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的( )。

A.方解石
B.斜长石
C.角闪布
D.石英

答案:D
解析:
断层泥中的主要成分为碎砾和黏土矿物,碎砾主要是石英和其他矿物及原岩碎屑,其中石英是稳定的矿物,形成后不会风化变质为其他矿物,而因溶蚀程度的不同表现出不同的溶蚀类型。同时,石英碎砾的溶蚀程度与时间是相关的,可在经验上和统计上得到不同时期形成的石英碎砾的溶蚀特征分布。这样,对比所测样品中石英碎砾的溶蚀类型和所占的比例就可以得到样品形成的地质时期。

第2题:

将试验机夹头部分推入扫描电镜的电子腔中时,需要注意()。

  • A、不要用力过大、过猛
  • B、限位销将试验机定位,使试件在扫描电镜的观察区域内
  • C、小心试验机夹头撞到电子腔的其它部件

正确答案:A,B,C

第3题:

对样品进行表面形貌分析时应使用()。

A、X射线衍射(XRD)

B、透射电镜(TEM)

C、扫描电镜(SEM)


参考答案:C

第4题:

扫描电镜由()、()、()、()、()()组成。


正确答案:光学系统,扫描系统,信号检测放大系统,图象显示和记录系统,真空系统,电源系统

第5题:

扫描电镜中观察到的断口形貌有什么特点?


正确答案:扫描电镜中观察到的是金属断口的本身,故形貌逼真,假象少,且可从低倍(10倍左右)到高倍(20万倍)连续观察。又可对断口上的微区进行化学成分分析。

第6题:

为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异?能否用扫描电镜来观察样品的内部结构,而用透射电镜来观察样品的表面结构?


正确答案: (1)透射电子显微镜的成像原理类似于普通光学显微镜,作为光源的电子束在成像时要穿透样品。由于电子束的穿透力有限,因此在进行透射电镜观察时要求样品一定要薄。而扫描电镜的成像原理类似于电视或电传真照片,图像是通过收集样品表面被激发的二次电子形成的,因此对样品的厚度并无特别的要求。
(2)扫描电镜一般被用于观察样品的表面结构,但通过样品制备过程中的冰冻蚀刻技术,用扫描电镜也可观察到样品的内部结构,获得立体的图像。
(3)透射电镜一般通过超薄切片技术观察样品的内部结构,但通过样品制备过程中的复型技术,用透射电镜也可对样品的表面结构进行观察。

第7题:

扫描电镜的主要作用是进行显微形貌分析和确定成分分布。()


正确答案:正确

第8题:

扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()


参考答案:×

第9题:

人眼可直接通过扫描电镜的目镜观察到图像。


正确答案:正确

第10题:

使用免疫荧光显微镜观察细胞结构需要()

  • A、特异的抗体
  • B、扫描电镜
  • C、带有一定波长过虑镜片的光镜
  • D、荧光试剂
  • E、透射电镜

正确答案:A,C,D

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