化学分析工考试
用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。（）
题目
用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。（）
参考答案和解析
相似问题和答案
第1题：
系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。
A.多次平行测定
B.二次平行试验
C.校正仪器
D.滴定试验
第2题：
下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )
A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等
B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正
C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差
D.重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
第3题：
A、进行仪器校正
B、作对照试验
C、作空白试验
D、增加平行测定次数
第4题：
试剂和器皿带进杂质所造成的误差可用（）消除。
A对照试验
B空白试验
C校正试验
B
略
第5题：
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过()来消除。
A.对照分析
B.空白试验
C.增加平行试验
D.校正仪器
第6题：
仪器误差可以用对照试验的方法来校正。
此题为判断题(对，错)。
第7题：
系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。
A.对照试验
B.滴定试验
C.多次平行测定
D.二次平行测定
第8题：
用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差。
此题为判断题(对，错)。
第9题：
B:多次测量，求平均值
C:空白试验
D:与对照品平行操作
E:将结果用校正公式校正
第10题：
仪器误差可以用对照试验的方法来校正
正确答案:错误