第1题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
A对
B错
第2题:
在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时,受外界影响的因素很多,往往引入很多误差,这类试品主要是指()。
第3题:
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
A对
B错
第4题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
第5题:
测量介质损耗因数,通常不易发现()。
第6题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
A对
B错
第7题:
变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器()、严重的局部缺陷等。
第8题:
一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。
A对
B错
第9题:
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
第10题:
一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。