温度对tanδ测试结果具有较大影响,一般同一被试设备,tanδ随温度的升高而升高。
第1题:
温度对tanδ测试结果具有较大影响,一般同一被试设备,tanδ随温度的升高而升高。
A对
B错
第2题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
A对
B错
第3题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
A对
B错
第4题:
关于θ角,表达式正确的是()。
第5题:
当被试品具有较大电容时,tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
第6题:
对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。
A对
B错
第7题:
一般认为,电力变压器绕组tanδ测试时的温度以10~40℃为宜。
A对
B错
第8题:
测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。
A对
B错
第9题:
使用QS1型交流电桥测量tanØ时,温度对tanØ测量结果影响很大。绝大多数情况下,对同一被试设备,其tanØ随温度的升高而减少。
第10题:
一般认为,电力变压器绕组tanδ测试时的温度以10~40℃为宜。