接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。

第1题：

在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

第2题：

直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。

第3题：

在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）

• A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤
• B、将接触法探伤改为液浸法探伤
• C、采用小直径探头探伤
• D、以上都是

第4题：

超声波探伤时，怎样选择工件探测面？

第5题：

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

第6题：

垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）

第7题：

超声波接触法探伤一般采用（）操作。

第8题：

用平探头对曲面工件接触法探伤时，探伤面曲率越大，耦合效果（）。

第9题：

采用接触法超探，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径的晶片。

第10题：

接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。