质量管理学
对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对
题目
对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）
- A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率
- B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率
- C、缺陷率与Cp和Cpk无关
- D、以上说法都不对
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相似问题和答案
第1题：
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm，其在统计控制状态下服从N(6.75，0.022)，则下列说法中，正确的有（ ）。
A.Cp=l.0
B.Cp=1.67
C.Cpk=1.67
D.CpK=0.83
E.CpK=0.5
正确答案：BD
BD
BD
第2题：
在解释Cp和Cpk的关系时，正确的表述是（ ）。A.规格中心与分布中心重合时，Cp =Cpk
B. Cpk总是大于或等于Cp
C. Cp和Cpk之间没有关系
D. Cpk总是小于Cp
B. Cpk总是大于或等于Cp
C. Cp和Cpk之间没有关系
D. Cpk总是小于Cp
答案：A
解析：
。Cpk小于或等于Cp。
第3题：
下列有关Cp，Cpk的叙述正确的是( )。
A．Cp——无偏移短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数
B．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数
C．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数
D．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数
正确答案：A
解析：C系列过程能力指数表示稳态条件下计算的短期过程能力指数，Cp为无偏移状况下的过程能力指数，Cpk是有偏移情况下的过程能力指数。无偏移上单侧短期过程能力指数为CpU，无偏移下单侧短期过程能力指数CpL。
解析：C系列过程能力指数表示稳态条件下计算的短期过程能力指数，Cp为无偏移状况下的过程能力指数，Cpk是有偏移情况下的过程能力指数。无偏移上单侧短期过程能力指数为CpU，无偏移下单侧短期过程能力指数CpL。
第4题：
在过程控制中，若 TL = —3，Tu = 3,μ=1,σ=1则（ ）。
A. Cp =1 B. Cp = 2/3
C. Cpk=1 D. Cpk= 2/3
E. Cpk = 4/3
A. Cp =1 B. Cp = 2/3
C. Cpk=1 D. Cpk= 2/3
E. Cpk = 4/3
答案：A,D
解析：
第5题：
在解释Cp和Cpk的关系时，下列表述正确的是（ ）。
A.规格中心与分布中心重合时，Cp=Cpk
B. Cpk总是大于或等于Cp
C. Cp和Cpk之间没有关系
D. Cpk总是小于Cp
A.规格中心与分布中心重合时，Cp=Cpk
B. Cpk总是大于或等于Cp
C. Cp和Cpk之间没有关系
D. Cpk总是小于Cp
答案：A
解析：
由公式
可知，Cpk≤Cp。当规格中心与分布中心重合时，K=0，等号成立，Cp=Cpk。
可知，Cpk≤Cp。当规格中心与分布中心重合时，K=0，等号成立，Cp=Cpk。第6题：
两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是( )。
A.Cp≤Cpk
B.Cpk≤Cp
C.Cp/Cpk=1-K
D.Cp/Cpk=1+K
正确答案：B
第7题：
下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是（ ）。
A. Cp-无偏移短期过程能力指数，Cpk-有偏移短期过程能力指数
B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数， Cpk--有偏移短期过程能力指数
C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数
D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk
A. Cp-无偏移短期过程能力指数，Cpk-有偏移短期过程能力指数
B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数， Cpk--有偏移短期过程能力指数
C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数
D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk
答案：A
解析：
C系列过程能力指数表示稳态条件下计算的短期过程能力指数，Cp为无偏移状况下的过程能力指数，Cpk是有偏移情况下的过程能力指数。无偏移上单侧短期过程能力指数为Cpu，无偏移下单侧短期过程能力指数CpL。
第8题：
在解释Cp和Cpk的关系时，下列表述正确的是( )。
A．规格中心与分布中心重合时，Cp=Cpk
B．Cpk是大于或等于Cp
C．Cp和Cpk之间没有关系
D．Cpk总是小于Cp
正确答案：A
解析：当规格中心与分布中心重合时，K=0，等号成立，Cpk=Cp。
解析：当规格中心与分布中心重合时，K=0，等号成立，Cpk=Cp。
第9题：
关于Cp与CpK的说法，正确的有（ ）。
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B. Cp仅能用于双侧规范限的情况
C. Cpk可以反映过程中心的偏移 D. —般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B. Cp仅能用于双侧规范限的情况
C. Cpk可以反映过程中心的偏移 D. —般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
答案：A,C,D
解析：
。Cp既可用于双侧规范限，也可用于单侧规范限，选项B错误；Cp用于分析短期过程能力的大小，Cpk用于分析长期过程能力的大小，两者需结合考虑。
第10题：
下列关于Cp和Cpk的说法中，不正确的是（ ）。
A. Cp越大，质量能力越强
B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果
C. Cp的着重点在于质量能力
D. Cpk的着重点在于管理能力，没有考虑质量能力
A. Cp越大，质量能力越强
B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果
C. Cp的着重点在于质量能力
D. Cpk的着重点在于管理能力，没有考虑质量能力
答案：D
解析：
无偏移情况的Cp，表示过程加工的一致性，即“质量能力”，Cp越大，质量能力越强；而有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数，Cpk越大，则二者偏离越小，是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。