在采用万和仪表对现网DT测试的过程中,某路段发生多次的切换失败,下列不可能的是()
第1题:
A.MOS分
B.切换次数
C.CSFB
D.SINR
第2题:
A.周期性呼叫
B.长时间呼叫
C.无载测试
D.有载测试
第3题:
A.不能对上行信号和电平进行测试
B.不能了解到具体的切换原因
C.少量的测试数据具有典型的意义但不具有统计意义
D.测试数据的获取成本较高
第4题:
DT测试时计算接通率时,在无覆盖路段,测试系统不进行试呼或处理的统计也应计入该段产生的试呼数。
第5题:
某基站2、3小区覆盖反向,那么在DT测试及话务指标中可能会造成什么样的后果()
第6题:
A.同频同码UE无法识别导致切换失败
B.源小区下行干扰严重导致切换失败
C.目标小区上行失步原因导致切换失败
D.邻区拥塞无空闲信道无法切换
第7题:
在现网当中,引起切换失败的原因主要有以下哪些()
第8题:
A.终端辅助的前向切换
B.终端辅助的后向切换
C.网络辅助的后向切换
D.网络辅助的前向切换
第9题:
切换成功率是指()
第10题:
基站天线连接错误现象中,DT、CQT测试方面的分析有哪些()