LTE认证考试
在采用万和仪表对现网DT测试的过程中，某路段发生多次的切换失败，下列不可能的是（）A、频率严重干扰B、接收电平过低C、手机问题D、邻区存在同频同BSIC情况
题目
在采用万和仪表对现网DT测试的过程中，某路段发生多次的切换失败，下列不可能的是（）
- A、频率严重干扰
- B、接收电平过低
- C、手机问题
- D、邻区存在同频同BSIC情况
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相似问题和答案
第1题：
现网测试中通常用哪个指标衡量语音质量好坏?
A.MOS分
B.切换次数
C.CSFB
D.SINR
参考答案：A
第2题：
在语音业务DT测试中,以下哪种测试适合被用于覆盖率、切换成功率、切换区比率参数的测试()
A.周期性呼叫
B.长时间呼叫
C.无载测试
D.有载测试
参考答案：B
第3题：
通过路测的方式对现网进行测试也有其不足之处,表现在()
A.不能对上行信号和电平进行测试
B.不能了解到具体的切换原因
C.少量的测试数据具有典型的意义但不具有统计意义
D.测试数据的获取成本较高
参考答案：A, B, C, D
第4题：
DT测试时计算接通率时，在无覆盖路段，测试系统不进行试呼或处理的统计也应计入该段产生的试呼数。
正确答案:错误
第5题：
某基站2、3小区覆盖反向，那么在DT测试及话务指标中可能会造成什么样的后果（）
- A、2、3小区的TCH分配失败会很多
- B、DT测试中由于切换关系可能不全，很容易掉话
- C、DT测试中由于频率规划不对，质量很差
- D、DT测试中2、3小区间的切换会有很多失败
正确答案:B,C
第6题：
在现网当中,引起切换失败的原因主要有以下哪些()
A.同频同码UE无法识别导致切换失败
B.源小区下行干扰严重导致切换失败
C.目标小区上行失步原因导致切换失败
D.邻区拥塞无空闲信道无法切换
参考答案：A, B, C, D
第7题：
在现网当中，引起切换失败的原因主要有以下哪些（）
- A、同频同码UE无法识别导致切换失败
- B、源小区下行干扰严重导致切换失败
- C、目标小区上行失步原因导致切换失败
- D、邻区拥塞无空闲信道无法切换
正确答案:A,B,C,D
第8题：
现网中,LTE采用的切换方式为()
A.终端辅助的前向切换
B.终端辅助的后向切换
C.网络辅助的后向切换
D.网络辅助的前向切换
答案：B
第9题：
切换成功率是指（）
- A、切换失败次数与切换请求次数之比
- B、切换失败测试与切换成功次数之比
- C、所有原因引起的切换成功次数与所有原因引起的切换请求次数的比值
- D、切换成功次数与切换失败次数之比
正确答案:C
第10题：
基站天线连接错误现象中，DT、CQT测试方面的分析有哪些（）
- A、TBF建立成功率降低
- B、切换频繁，切换失败较多；通话质量差
- C、掉话增多
- D、手机发射功率抬高
正确答案:B,C,D