变电五通考试
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（）且初值差不大于50%。A、50mΩB、100mΩC、150mΩD、200mΩ
题目
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（）且初值差不大于50%。
- A、50mΩ
- B、100mΩ
- C、150mΩ
- D、200mΩ
如果没有搜索结果，请直接 联系老师 获取答案。
如果没有搜索结果，请直接 联系老师 获取答案。
相似问题和答案
第1题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于300mΩ且初值差不大于50%。
答案：错
解析：
第2题：
独立避雷针的接地电阻测试值应在( )mΩ以上，当独立避雷针导通电阻值低于500mΩ时，需进行校核测试。
100$; $200$; $300$; $500
答案：D
解析：
第3题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试
答案：A
解析：
第4题：
独立避雷针导通电阻低于300mΩ时应进行校核测试，其他部分导通电阻大于60mΩ时应进行校核测试
答案：错
解析：
第5题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于( )。
20%$;$30%$;$40%$;$50%
答案：D
解析：
第6题：
下列关于设备接地引下线导通检查说法正确的是（ ）
(A)独立避雷针的检查周期为每年一次 (B)测试点和参考点的位置应和以往测试不同 (C)设备接地引下线导通电阻值应小于等于150mΩ (D)当独立避雷针导通电阻值低于500mΩ时，需进行校核测试
答案：A,D
解析：
第7题：
下列关于设备接地引下线导通检查说法正确的是（ ）。
独立避雷针的检查周期为每年一次$;$测试点和参考点的位置应和以往测试不同$;$设备接地引下线导通电阻值应小于等于150mΩ$;$当独立避雷针导通电阻值低于500mΩ时，需进行校核测试。
答案：A,D
解析：
第8题：
避雷针运维细则中，独立避雷针的接地电阻测试导通电阻值高于500mΩ时，需进行校核测试。
答案：错
解析：
第9题：
接地装置运行一般规定中，独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%
500$;$400$;$300$;$200
答案：A
解析：
第10题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（ ）且初值差不大于50%。
50mΩ$; $100mΩ$; $150mΩ$; $200mΩ
答案：D
解析：