在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
第1题:
现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。
第2题:
采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。
第3题:
在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )
第4题:
现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。
第5题:
分析小电容量试品的介质损耗因素tgδ测量结果时,应特别注意哪些外界因素的影响?
第6题:
在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时,使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些?
第7题:
在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
第8题:
用QSl型西林电桥进行实际测量时,消除磁场干扰的办法有:将电桥移到磁场干扰以外;在检流计极性转换开关处于两种不同位置时,调节电桥平衡,求得每次平衡时的试品tgδ值和电容值,然后再求取两次的平均值,以消除磁场干扰的影响。( )
第9题:
适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。
第10题:
为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?