机修钳工考试
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。A、最小条件B、包容原则C、相关原则
题目
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。
- A、最小条件
- B、包容原则
- C、相关原则
如果没有搜索结果，请直接 联系老师 获取答案。
如果没有搜索结果，请直接 联系老师 获取答案。
相似问题和答案
第1题：
常用的平面度的测量方法（）。
- A、光隙法
- B、测微仪法
- C、平晶法
- D、水平仪法
正确答案:A,B,C,D
第2题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
- A、球面干涉
- B、等倾干涉
- C、等厚干涉
正确答案:C
第3题：
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
参考答案：二级;等厚干涉原理
第4题：
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
正确答案:越大
第5题：
以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。
- A、光学平晶等厚干涉法
- B、测微法
- C、激光准值仪法
- D、光隙法
正确答案:D
第6题：
干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法。
正确答案:正确
第7题：
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
正确答案:相等；等厚干涉
第8题：
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
参考答案：B
第9题：
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。
- A、准直望远镜
- B、罐式水平量器
- C、平晶
正确答案:C
第10题：
光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。
- A、大平面
- B、小平面
- C、圆柱面
- D、圆跳动
正确答案:B