当检验具有破坏性时,也可以进行全数检验。
第1题:
对于产品的破坏性检验,不应采用( )方案。
A.全数检验
B.首件检验
C.抽样检验
D.第一方检验
第2题:
第3题:
关于质量检验管理缺陷下面哪种说法是正确的
A、事后检验无法监控生产过程
B、全数检验成本高,耗时长
C、不能预防废品的产生
D、当产品数量庞大或者产品检验具有破坏性时,全数检验几乎无法施行
E、以上全对
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
第9题:
第10题: