工学
单选题中高档数控系统中的计算机硬件结构一般采用（）A 单CPU、模块化结构B 单CPU、大板化结构C 多CPU、模块化结构D 多CPU、大板结构
题目
单选题
中高档数控系统中的计算机硬件结构一般采用（）
A
单CPU、模块化结构
B
单CPU、大板化结构
C
多CPU、模块化结构
D
多CPU、大板结构
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相似问题和答案
第1题：
现代中高档CNC系统中的计算机硬件结构多采用（）
- A、单CPU、模块化结构
- B、单CPU、大板结构
- C、多CPU、大板结构
- D、多CPU、模块化结构
正确答案:D
第2题：
计算机硬件的典型结构主要包括单总线结构、双总线结构和采用（）的大型系统结构。
正确答案:通道
第3题：
中高档数控系统中的计算机硬件结构一般采用()。
A、单CPU、模块化结构
B、单CPU、大板化结构
C、多CPU、模块化结构
D、多CPU、大板结构
参考答案：C
第4题：
具有自动版权的华中数控系统以（）为硬件平台，以Dos、Windows及其丰富的支持软件为软件平台。
- A、PLC
- B、计算机硬件
- C、计算机
- D、工业PC机
正确答案:D
第5题：
阐述定位精度、重复定位精度的概念和相互关系，一般采用哪些量具，如何测量定位精度和重复定位精度。当定位精度误差主要是由丝杠螺距误差造成的，对中高档数控系统如何提高定位精度？
正确答案: （1）定位精度概念：数控机床定位精度是指机床各坐标轴在数控装置控制下运动所能达到的位置精度。（2分）
（2）重复定位精度概念：反映轴运动稳定性的一个基本指标。（2分）
（3）定位精度、重复定位精度的相互关系：定位精度是系统误差，重复定位精度是随机误差，定位精度包含重复定位精度（1分）
（4）量具：激光干涉仪，对于一般用户也可采用标准刻度尺，配以光学读数显微镜进行比较测量（2分）
（5）测量方法简述（4分。简述不完整或存在错误，酌情扣1~4分）
（6）利用数控系统的螺距误差补偿功能进行调整，可以大大提高数控机床的定位精度，简述补偿方法（4分。简述不完整或存在错误，酌情扣1~4分）
第6题：
现在主要采用（）结构作为计算机硬件之间的连接方式。
正确答案:总线
第7题：
西门子公司的802S数控系统安装在普通车床中，一般进给系统采用（）系统。
- A、开环
- B、半闭环
- C、单闭环
- D、双闭环
正确答案:A
第8题：
下面()属于数控技术的发展趋势。
A、数控系统体系结构的开放化
B、数控系统的专用化
C、数控系统智能化
D、数控系统网络化
参考答案：ACD
第9题：
阐述定位精度、重复定位精度的概念和相互关系及测量的工具和方法。如果定位精度误差主要是由丝杠螺距误差造成的，对中高档数控系统如何提高定位精度？
正确答案: （1）定位精度概念：数控机床定位精度是指机床各坐标轴在数控装置控制下运动所能达到的位置精度。（1.5分）
（2）重复定位精度概念：是指数控机床的运动部件在同样条件下在某点定位时，定位误差的离散度大小。重复定位精度是呈正态分布的偶然性误差，它影响一批零件加工的一致性，反映轴运动稳定性的一个基本指标。（1.5分）
（3）当移动部件从正、反两个方向多次重复趋近某一定位点时，正、反两个方向的平均位置偏差是不相同的，其差值称之为反向差值。从不同方向趋近某一定位点时，其定位精度和重复定位精度也有所不同。（1.5分）
（4）定位精度、重复定位精度的相互关系：定位精度是系统误差，重复定位精度是随机误差，定位精度包含重复定位精度（1.5分）
（5）量具：激光干涉仪，对于一般用户也可采用标准刻度尺，配以光学读数显微镜进行比较测量（1.5分）
（6）测量方法简述，参见GB/T17421中规定：包括测量点的选取，测量方法及测量结果的评定等（4分。简述不完整或存在错误，酌情扣1~4分，扣完为止。）
（7）减小随机性误差比较困难，一般只能通过全面提高进给传动系统各部分的精度和配合质量，增强刚度，以及减少摩擦系数并使摩擦系数稳定不变来改善。（1.5分）
（8）系统性误差占总误差的比重较大，而且比较容易减小或消除。通常采用以下两种方法：
1.从产生误差的根源上采取措施减小或消除误差；
2.采用螺距误差补偿的方法提高定位精度，并简述螺距误差补偿方法（2分）
第10题：
数控加工刀具轨迹检验一般不采用（）。
- A、数控系统的图形显示
- B、CAM软件中的刀轨模拟
- C、数控仿真软件
- D、试件加工
正确答案:C