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判断题如果基体效应影响测定结果，当影响不是很大时，可采用预先分离基体的测量方法。若基体效应严重地影响测定结果时，则只能用标准加入测量法来消除。（）A 对B 错
题目
判断题
如果基体效应影响测定结果，当影响不是很大时，可采用预先分离基体的测量方法。若基体效应严重地影响测定结果时，则只能用标准加入测量法来消除。（）
A
对
B
错
参考答案和解析
正确答案：
对
解析：
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相似问题和答案
第1题：
测定电导率时，温度对测定结果（）。
A影响很大
B影响很小
C无影响
A
略
第2题：
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
正确答案: 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有：
吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
第3题：
用紫外分光光度法测定吸光度时，进行空白校正的目的是（ ）。
A．消除药物中的杂质对测定结果的影响
B．消除溶剂和吸收池对测定结果的影响
C．消除温度对测定结果的影响
D．消除非单色光对测定结果的影响
E．消除仪器的波动对测定结果的影响
正确答案：B
本题考查紫外分光光度法。吸光度测定实际是透光率的测定，除供试品吸收光外，溶剂、容器也会吸收光，故须进行空白校正以除其影响。
本题考查紫外分光光度法。吸光度测定实际是透光率的测定，除供试品吸收光外，溶剂、容器也会吸收光，故须进行空白校正以除其影响。
第4题：
什么叫做基体效应？
正确答案:基体效应就是共存元素对被测元素的影响
第5题：
不影响X荧光分析的主要因素有（）。
- A、粒度效应
- B、矿物效应
- C、基体效应
- D、光电效应
正确答案:C
第6题：
什么叫分析测试的基体效应？对测定结果有何影响？
正确答案: 在环境样品中、各种环境污染物的浓度一般都是ppm或ppb级水平，而大量存在的其他物质为基体。单一组份的标准溶液与实际样品间的基体差异很大，把标准溶液作为标准来测定实际样品时，常会产生很大的误差。这种由于基体因素给测定结果带来的影响即是基体效应。在环境监测中，标准溶液与待测样品一般都在相同条件下进行比较测定，由于基体的差异不可避免基体效应存在正或负的影响，使测定结果偏高或偏低。
第7题：
若原子吸收的定量方法为标准加入法时，消除了下列哪种干扰？（）
- A、分子吸收
- B、背景吸收
- C、光散射
- D、基体效应
正确答案:D
第8题：
若原子吸收的定量方法为标准加入法时 , 消除了下列哪种干扰? ( )
A.分子吸收
B.背景吸收
C.光散射
D.基体效应
参考答案：D
第9题：
在用偏光显微镜法测定高聚物的熔点时，下列表述哪一个是错误的（）。
- A、试样的状态对结果影响很大
- B、点火的方式对测试结果影响很大
- C、升温速度对测试结果也有较大的影响
正确答案:C
第10题：
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
正确答案:错误