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多选题无偏移情况的Cp表示()A过程加工的一致性BCp越大,质量能力越弱C“质量”能力DCp越大,质量能力越强E过程加工的不统一

题目
多选题
无偏移情况的Cp表示()
A

过程加工的一致性

B

Cp越大,质量能力越弱

C

“质量”能力

D

Cp越大,质量能力越强

E

过程加工的不统一

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第1题:

无偏移情况的Cp表示( )。

A.过程加工的一致性

B.Cp越大,质量能力越弱

C.“质量”能力

D.Cp越大,质量能力越强

E.过程加工的不统一


正确答案:ACD
解析:过程能力是指过程加工质量方面的能力,它是衡量过程加工内在一致性的,是稳态下的最小波动。过程能力指数反映了过程加工质量满足产品技术要求的程度。Cp值越大,表明加工质量越高,但这时对设备和操作人员的要求也高,加工成本也越大。

第2题:

在使用矩形阵列时,如果偏移量为正值,则行偏移和列偏移是表示向()偏移。

A、左下

B、左上

C、右下

D、右上


正确答案:D

第3题:

无偏移情况的C。表示( )。

A.过程加工的一致性

B.Cp越大,质量能力越弱

C.“质量能力”

D.Cp越大,质量能力越强

E.过程加工的不统一


正确答案:ACD
解析:无偏移情况的Cp表示过程加工的一致性,即“质量能力”,Cp越大,则质量能力越强。

第4题:

过程能力指数不包括( )。

A.双侧公差情况的过程能力指数

B.单侧公差情况的过程能力指数

C.无偏移情况的过程能力指数

D.有偏移情况的过程能力指数


正确答案:C
解析:过程能力指数存在三种情况:①双侧公差情况的过程能力指数;②单侧公差情况的过程能力指数;③有偏移情况的过程能力指数。

第5题:

关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。

A.只有在过程处于统计控制状态才能计算

B.Cp仅能用于双侧规范限的情况

C.Cpk可以反映过程中心的偏移

D.一般来说,Cpk不大于Cp

E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可


正确答案:ACD
Cp既可用于双侧规范限,也可用于单侧规范限,选项B错误;Cp用于分析短期过程能力的大小,Cpk砷用于分析长期过程能力的大小,两者需结合考虑。

第6题:

下列有关Cp,Cpk的叙述正确的是( )。

A.Cp——无偏移短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数

B.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数

C.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数

D.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数


正确答案:A
解析:C系列过程能力指数表示稳态条件下计算的短期过程能力指数,Cp为无偏移状况下的过程能力指数,Cpk是有偏移情况下的过程能力指数。无偏移上单侧短期过程能力指数为CpU,无偏移下单侧短期过程能力指数CpL。

第7题:

过程能力指数Cp小于1.0表示( )。

A.过程能力不足

B.应该进过程

C.应减少过程输出特性的表差

D.过程未处于统计控制状态

E.理论小过程中心和技术中心的偏移量


正确答案:ABC
Cp不能反映过程中心和技术中心的偏移,所以选项E错误。过程处于统计控制状态时,才能计算Cp。

第8题:

下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。

A.Cp越大,质量能力越强

B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果

C.Cp的着重点在于质量能力

D.Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力


正确答案:D
解析:无偏移情况的Cp,表示过程加工的一致性,即“质量能力”,Cp越大,质量能力越强;而有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。

第9题:

在双侧限无偏移情况下,过程能力指数Cp为( )。


正确答案:B
解析:式中,β为技术公差的幅度;Tu、TL分别为上、下规格限;σ为质量性值分布的总体标准差。

第10题:

在双侧限有偏移情况下,过程能力指数Cpk的表达形式有( )。
A. min (CpU, CpL) B. Cp(1+ K)
D.Cp(1- K)
E. max (CpU,CpL)


答案:A,C,D
解析:
产品质量特性值分布的均值u与公差中心M不重合,即有偏移时,不合格品率必然增大,Cp值降低。修正后的过程能力指数Cpk的计算公式为Cpk=min (CpU, CpL);若记分布中心u对于公差中心M的偏移ε= M-u ,则过程能力指数修正为:Cpk =

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