第1题:
简述测量工件平面度误差的方法,并简述每种方法的优缺点。
第2题:
简述应用环境对MIS开发的影响
第3题:
“自下而上”和“自上而下”两种MIS的开发策略各有何优缺点?
第4题:
“自下而上”的开发策略有何优缺点?
第5题:
简述MIS开发方法的结构体系。
第6题:
简述结构化系统开发方法的优缺点
第7题:
在实践中,建设MIS(管理信息系统)的正确策略是,先自上而下地作好MIS(管理信息系统)的战略规划,再自下而上地逐步实现各系统的应用开发。
第8题:
采用结构化开发方法,在开发的生命周期各阶段中,属于自下而上方法的是()。
第9题:
结合实际应用讨论“自下而上”和“自上而下”两种MIS的开发策略各有何优缺点。
第10题:
简述在MIS开发中采用“自上而下”方法的优缺点,并举例说明。