理学

单选题衍射仪用的试样要求()A 平板状B 粉末状C 块状D 以上都可以

题目
单选题
衍射仪用的试样要求()
A

平板状

B

粉末状

C

块状

D

以上都可以

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第1题:

用()分析时,必须先将试样分解,制成溶液后再进行测定。

  • A、红外光谱仪
  • B、光电光谱仪
  • C、火焰原子吸收光谱仪

正确答案:C

第2题:

探伤用对比试样有什么要求?


正确答案:1)应选用与被探钢管规格相同,材质热处理工艺和表面状态相同或相似的钢管。
2)不得有影响人工缺陷正常指示的自然缺陷。

第3题:

X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。


参考答案: 晶粒要细小;试样无择优取向

第4题:

单选题
X射线衍射试样的晶粒尺寸变小会使()
A

衍射峰变强

B

衍射峰变弱

C

衍射峰变宽

D

衍射峰变窄


正确答案: C
解析: 暂无解析

第5题:

粉晶衍射仪法


正确答案: 利用X射线的电离效应及荧光效应,由辐射探测器(各种计数器)来测定记录衍射线的方向和强度。

第6题:

光谱仪对分析试样的要求为直径()mm,高度为()mm。


正确答案:20~100;1-100

第7题:

比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。


正确答案:多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理,多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布,因此只需要测角仪与样品检测器为θ~2θ联动,就可检测到晶体参数;而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动,调整单晶的各个晶面产生衍射,检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数,主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布,进而推断出分子的结构。

第8题:

光电直读光谱仪对于测试样品的要求是怎样的?


正确答案:主要是用于铁基、铜基、铝基材料的分析。具体要求是只要测试精确度与传统分析实验室方法相当就可以了。对测试样品的要求:块状,导电

第9题:

说明用衍射仪进行多晶试样的衍射分析的原理和过程。


正确答案:衍射仪主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器及各检测记录装置等部分组成。通过X射线发生器产生X入射线,试样在平面粉晶试样台上绕中心轴转动,在满足布拉格方程的方向上产生X衍射线,由探测器探测X衍射线强度,由测角仪测定产生X射线衍射的θ角。

第10题:

问答题
衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同?

正确答案: 入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。不同:衍射仪法:采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2θ变化,德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为10~20h。记录方式:衍射仪法采用计数率仪作图,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对(2θ)的分布(I-2θ曲线)也不同。
解析: 暂无解析

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