第1题:
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。
第2题:
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()
第3题:
IIW试块主要用于测试和校验探伤仪的技术性能指标。()
此题为判断题(对,错)。
第4题:
如何在CSK-1A试块上测试斜探头的入射点和前沿长度?
第5题:
《钢轨探伤管理规则》规定,探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。
第6题:
IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能。
第7题:
如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”?
第8题:
与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
第9题:
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角,在探测任何声波的试件时此值()。
第10题:
IIW试块主要用于测试和校验探伤仪的技术性能指标。