第1题:
用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量。( )
A.等于φ2mm平底孔
B.比φ2mm平底孔大
C.比φ2mm平底孔小
D.不小于φ2mm平底孔
第2题:
在对铸钢件UT检测时针对两块试块进行质量对比,A试块的衰减系数大于B试块,在探测时都用底波标准法调整灵敏度,结果在工件中同声程发现同样波高的缺陷,则实际缺陷哪个大()
第3题:
在深度为100mm,直径为41衄平底孔上得到50%的波高,作为基准灵敏度,如深度为200mm处得到25%波高的缺陷,则缺陷的当量平底孔直径是()。
A.11.3mm
B.9mm
C.10mm
D.7mm
第4题:
折射角β的计算公式是tgβ=X÷H,X为探头入射点至试块端面的水平距离;H为试块高度与人工缺陷处高度之和。
第5题:
超声检测中,使用对比试块的主要目的是()
第6题:
磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
第7题:
磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于复合磁化法的磁粉材料和系统灵敏度的评价
第8题:
A、120和60mm
B、85和85mm
C、60和120mm
D、85和42.5mm
第9题:
用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。
第10题:
探伤灵敏度校准后,还必须在实物试块上进行比对校验,在仪器条件不变的情况下,试块上相应部位人工缺陷反射波的位置和高度每次均应保持相等。