铁路工务系统考试
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相似问题和答案
第1题：
联合双直探头的最主要用途是：（）
- A、探测近表面缺陷
- B、精确测定缺陷长度
- C、精确测定缺陷高度
- D、用于表面缺陷探伤
正确答案:A
第2题：
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
正确答案:近表面
第3题：
通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。
A、直探头
B、斜探头
C、联合双探头
D、均不能
参考答案：C
第4题：
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）
- A、用TR探头
- B、使用窄脉冲宽频带探头
- C、提高探头频率，减小晶片尺寸
- D、以上都是
正确答案:D
第5题：
联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出
正确答案:两；彼此分离；延迟块；小；近表面缺陷
第6题：
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
正确答案:近表面
第7题：
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）
- A、近场干扰
- B、材质衰减
- C、盲区
- D、折射
正确答案:C
第8题：
采用聚焦探头探伤,由于声束细,产生散乱反射的几率小,因此信噪比高,灵敏度高,有利于缺陷的检出。()
此题为判断题(对，错)。
参考答案：正确
第9题：
减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。
正确答案:错误
第10题：
检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。
正确答案:正确