近表面
表面
内部
平面形
第1题:
双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。
第2题:
双晶直探头的最主要用途是()。
第3题:
第4题:
表面波探头用于探测工件()缺陷。
第5题:
频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。
第6题:
在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
第7题:
以下哪一条,不属于双晶探头的优点()
第8题:
纵波双晶直探头检测工件时,对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。
第9题:
表面波探头用于探测工件表面缺陷。
第10题:
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。