探头型式
晶片尺寸
波束方向
上述都有
第1题:
在超声波探伤中由于耦合情况影响反射波高的因素有()。
A.耦合剂特性
B.耦合层厚度
C.温度及界面反射率
D.上述都有
第2题:
A型显示的示波屏上的水平基线表示()。
第3题:
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()。
A.探头型式
B.晶片尺寸
C.波束方向
D.上述都有
第4题:
进行超声波探伤时,随着探头的移动,探伤仪的荧光屏上会有各种波形出现,包括始波、轮毂内表面的反射波、轮座和轮毂连接处夹杂物的反射波等。
第5题:
利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时,影响缺陷定位的主要因素有()。
第6题:
在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是()。
A.水平线性
B.垂直线性
C.发射功率
D.上述都有
第7题:
超声波探伤时,影响缺陷反射波波高的因素有哪些?
第8题:
在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有()。
A.缺陷形状、取向和尺寸
B.缺陷性质
C.缺陷反射率
D.上述都有
第9题:
在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。
第10题:
在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高