无损检测技术资格人员考试
单选题通常试件的缺陷可能在底片上显示为（）A 较黑部分B 较白部分C 以上都对D 以上都错
题目
单选题
通常试件的缺陷可能在底片上显示为（）
A
较黑部分
B
较白部分
C
以上都对
D
以上都错
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相似问题和答案
第1题：
缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
正确答案:错误
第2题：
底片判读时发现很多小而无害的显示，则该显示为（）
- A、错误显示
- B、无关显示
- C、有关显示
- D、缺陷
正确答案:B
第3题：
钢结构进行射线探伤时，射线穿过有缺陷部位后在底片上显示更黑。（ ）
答案：对
解析：
感光量较大的底片经暗室处理后变得较黑，因此，工件中的缺陷可通过射线在底片上产生的黑色影迹判别，这就是射线照相法的探伤原理。
第4题：
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）
- A、底片成象颗粒度
- B、底片上缺陷图像不清晰度
- C、底片上缺陷图像对比度
- D、以上都是
正确答案:D
第5题：
RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应（）
- A、缩小射线至底片的距离，且将底片紧贴试件
- B、增加射线至底片的距离，且将底片紧贴试件
- C、缩小射线至底片的距离，且将底片远离试件
- D、增加射线至底片的距离，且将底片远离试件
正确答案:B
第6题：
什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。
正确答案: 由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨别的影像，但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像，称之为伪缺陷。
伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成（如指纹、折痕、划伤、水印等），或者是由化学作用形成（如漏光、感光、药物玷污等），大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管，来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等，来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等；来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等。
第7题：
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）
- A、胶片粒度
- B、底片上缺陷影像的不清晰度
- C、底片上缺陷影像的对比度
- D、以上都是
正确答案:D
第8题：
像质计的功用是（）
- A、显示缺陷的大小
- B、显示底片的黑度
- C、显示底片的对比度
- D、显示照相的品质
正确答案:D
第9题：
底片因刮伤、擦伤、手纹、污染等造成的显示是（）
- A、缺陷
- B、瑕疵
- C、错误显示
- D、无关显示
正确答案:C
第10题：
底片判读时发现有一条状似裂纹的黑线，经判定为增感屏刮伤所致，则该显示为（）
- A、错误显示
- B、无关显示
- C、有关显示
- D、缺陷
正确答案:A