无损检测技术资格人员考试
单选题什么是使用像质计的局限性？（）A 不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B 不能比较两种不同透照技术的质量高低；C 不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D 不能验证所用透照工艺的适当性
题目
单选题
什么是使用像质计的局限性？（）
A
不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据
B
不能比较两种不同透照技术的质量高低；
C
不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示
D
不能验证所用透照工艺的适当性
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相似问题和答案
第1题：
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）
- A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数
- B、像质计形状与尺寸都是已知的
- C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具
- D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
正确答案:C
第2题：
以下属于射线拍片时使用的相关器材是（）
- A、增感屏
- B、光照计
- C、像质计
- D、暗袋
正确答案:A,B,D
第3题：
阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）
- A、阶梯孔型像质计更灵敏些
- B、丝型像质计更灵敏些
- C、两者灵敏性相同
- D、以上都不是
正确答案:A
第4题：
工业射线照相用的像质计大致有（）
- A、金属丝型像质计
- B、孔型像质计
- C、槽型像质计
- D、以上都是
正确答案:D
第5题：
最广泛使用的像质计型式主要是（）
- A、丝型像质计
- B、阶梯孔型像质计
- C、平板孔型像质计
- D、以上都是
正确答案:D
第6题：
什么是使用像质计的局限性？（）
- A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据
- B、不能比较两种不同透照技术的质量高低；
- C、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示
- D、不能验证所用透照工艺的适当性
正确答案:C
第7题：
以下有关放置像质计的说法正确的是（）
- A、原则上每一张射线底片都应放置像质计
- B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计
- C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处
- D、以上都对
正确答案:D
第8题：
使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片，其作用为（）
- A、改善像质计影像
- B、降低电子发射
- C、模拟焊缝的补强高度
- D、增强影像
正确答案:C
第9题：
有关像质计使用的说法正确的是（）
- A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位
- B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验
- C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记
- D、以上都对
正确答案:D
第10题：
为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度？
正确答案: 像质计灵敏度是比较射线照相技术质量的一种手段。一般说来，像质计灵敏度越高，发现缺陷的能力越强，但像质计灵敏度和缺陷探测验灵敏度之间不能划等号，后者的情况要复杂得多，是缺陷自身几何形状、吸收系数、位置及取向角度的复合函数。虽然人们设计了各种型式的像质计，但到目前为止，还没有一种完美的像质计，能恰当反映出射线照相技术对各种自然缺陷的探测能力。