无损检测技术资格人员考试
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A 对B 错
题目
判断题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
A
对
B
错
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第1题：
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
正确答案:正确
第2题：
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
正确答案:正确
第3题：
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
正确答案:照相
第4题：
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
正确答案:正确
第5题：
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
正确答案: 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
2、非荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx；当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于500lx。
3、荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
4、检测人员进入暗区，至少经过3min的黑暗适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2倍～10倍放大镜进行观察。
第6题：
按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
正确答案:不记录；裂纹、白点除外
第7题：
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
第8题：
缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
正确答案:正确
第9题：
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
正确答案:错误
第10题：
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
正确答案:正确