综合计量工考试
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A 对B 错
题目
判断题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
A
对
B
错
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相似问题和答案
第1题：
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
A、一块
B、二块
C、三块
参考答案：B
第2题：
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。
正确答案:正确
第3题：
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
参考答案：1/4;同一侧
第4题：
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
正确答案:测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。
第5题：
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
第6题：
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
正确答案:成组
第7题：
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
正确答案:错误
第8题：
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块
B、一块
C、二块
参考答案：B
第9题：
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
正确答案: 对于大于50～150mm千分尺的平行度可以通过Ⅰ、Ⅱ组平行平晶的适当组合进行检定。
1.平行平晶与平行平晶组合法。
2.平行平晶与4等量块组合法。
第10题：
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
正确答案:错误