判断题对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错

第1题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

A对

B错

第2题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

A对

B错

第3题：

第4题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

第5题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

A对

B错

第6题：

于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

A升高

B降低

C基本不变

第7题：

对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

A对

B错

第8题：

第9题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第10题：

断路器的额定绝缘电压（U1）是制造厂规定的电压值，此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定，额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值，在任何情况下，最大额定电压不应超过额定绝缘电压。