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问答题简述卢瑟福背散射分析的特点。

题目
问答题
简述卢瑟福背散射分析的特点。
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相似问题和答案

第1题:

检查背散射的方法是?应采取哪些方法来减少背散射?


正确答案:在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护符合要求。

第2题:

背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。


正确答案:错误

第3题:

卢瑟福背散射分析中,入射离子与靶原子碰撞的运动学因子、()和()是背散射分析中的三个主要参量。


正确答案:散射截面;能量损失因子

第4题:

简述相关分析与回归分析相比较的特点。


正确答案: (1)注意现象质的界限及相关关系作用的范围;
(2)计算相关系数时,两个变量不必区分自变量和因变量,但在回归分析时,必须区分自变量和因变量;
(3)相关系数表示的是变量之间关系的紧密程度,回归分析能反映变量之间的相互影响关系和数量规律性;
(4)对发现机制的一种解释。

第5题:

以下有关背散射检查的说法错误的是()

  • A、背散射检查即“B”标记检查
  • B、照相时,在暗盒背面贴附一个“B”铅字标记
  • C、观片时若发现在较黑背景上出现“B”字较淡影像,说明背散射严重
  • D、观片时若发现在较淡背景上出现较黑“B”字,则说明背散射严重

正确答案:D

第6题:

背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。


正确答案:错误

第7题:

背散射电子


正确答案:是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。

第8题:

简述卢瑟福背散射分析的特点。


正确答案: 无损快速;
不需要标准样品;
特别适于分析轻基体中的重元素;
分析灵敏度好,一般为10-6g·g-1量级;
分析样品深度为μm量级,深度分辨率为10.0~20.0nm。

第9题:

如怀疑背散射影响清晰度,可在工件与胶片间放一铅字来验证背散射线的存在


正确答案:错误

第10题:

二次电子、背散射电子的定义并写出它们成像的特点。


正确答案:二次电子——在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子。成像特点:对试样表面状态敏感,产额正比于1/cosθ,只有在轻元素或超轻元素存在时才与组成成分有关;在收集栅加正压时,具有翻越障碍、呈曲线进入探测器的能力,使得试样凹坑底部或凸起的背面都能清晰成像,而无阴影效应;像的空间分辨率高,适于表面形貌观察。
背散射电子——被样品中的原子核反射回来的一部分入射电子,包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。成像特点:背散射电子能量较高,可直线进入探测器,有明显的阴影效应;产额随原子序数增大而增多;既可以进行表面形貌观察,也可以用来定性地进行成分分析。