软考中级
一个系统的模块结构图如下所示，用{×，×，×}表示这个系统的测试模块组合。下面的选项中(71)表示自顶向下的测试，(72)表示三明治式测试。A．{A){A,B,C,D,E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}B．{F}{G){H}{I}{J}{K}{B，F，G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}C．{K}{J}{I}{H}{G}{F}{B}{C}{D}{E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}D．{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{
题目
一个系统的模块结构图如下所示，用{×，×，×}表示这个系统的测试模块组合。下面的选项中(71)表示自顶向下的测试，(72)表示三明治式测试。
A．{A){A,B,C,D,E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
B．{F}{G){H}{I}{J}{K}{B，F，G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
C．{K}{J}{I}{H}{G}{F}{B}{C}{D}{E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
D．{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B，F，G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
相似问题和答案
第1题：
集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法是（）。
A．自顶向下渐增式测试
B．自底向上渐增式测试
C．非渐增式测试
D．系统测试
第2题：
13、集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法为（）。
A．自顶向下渐增式测试
B．自底向上渐增式测试
C．非渐增式测试
D．系统测试
第3题：
若某个大型软件系统的关键模块是在结构图的底部，最适合采用的集成测试策略是 。 A．自顶向下的集成测试 B．自底向上的集成测试 C．随意集成测试 D．中枢集成测试
A．A
B．B
C．C
D．D
第4题：
B.自顶向下
C.三明治
D.一次性
而从先测试E、F，再测试B、E、F可以看出集成测试时用到了自底向上的方式，两者结合即为三明治方式。
这种策略的优点是自顶向下与自底向上两种方式优点的综合，因此较早地验证了主要的控制和判断点且较早地验证了底层模块；同时由于可以两端向中间发展，其效率较高，运用一定的技巧，减少了桩模块和驱动模块的开发。本题缺乏严谨性。
第5题：
下图(a)是一个程序的模块结构，模块A是主模块。下图(b)是集成测试顺序的示意图。从此图可知，这个集成策略是：
A．自顶向下集成
B．自底向上集成
C．大突击集成
D．三明治式集成
第6题：
下图(a)所示为一个模块层次结构的例子，图(b)所示为对其进行集成测试的顺序，则此测试采用了()测试策略。该测试策略的优点不包括(35)。
A.自底向上
B.自顶向下
C.三明治
D.一次性
第7题：
一个系统的模块结构图如下所示，用{X,X,X}表示这个系统的测试模块组合。下面的选项中(20)表示自顶向下的测试，(21)表示三明治式测试。
A．{A}{A,B,C,D,E}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
B．{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B,F,G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
C．{K}{J}{I}{H}{G}{F}{B}{C}{D}{E}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
D．{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B,F,G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
解析：自顶向下的测试顺序是{A}{A,B,C,D,E}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}，即先测试A模块，然后再加入B,C,D,E模块，最后加入第三层的F,G,H,I,J,K模块。所谓三明治测试是由两组测试人员分别自顶向下和自底向上测试，中间夹心的是尚未测试的模块。根据定义应选择{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B,F,G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}。
第8题：
集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是______。
A) 自底向上渐增式测试方法
B) 自顶向下渐增式测试方法
C) 非渐增式测试方法
D) 系统测试方法
A．
B．
C．
D．
第9题：
集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是 ______。
A．自底向上渐增式测试方法
B．自顶向下渐增式测试方法
C．非渐增式测试方法
D．系统测试方法
解析：由自顶向下测试的特点可知，该集成测试方法是能够较早发现高层模块接口错误的。