质量工程师
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时，CP≥1D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
题目
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
相似问题和答案
第1题：
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。
第2题：
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B错误。
第3题：
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
BDE。
第4题：
关于功的说法正确的是（）。
- A、功是状态参数
- B、功与过程无关
- C、功没有负值
- D、功是过程的函数
正确答案:D
第5题：
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
第6题：
关于统计控制状态，下列说法正确的有( )。
A．统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态
B．控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握
C．通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品
D．在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济
E．统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
解析：统计控制状态(简称控制状态)是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。控制状态是生产追求的目标，在控制状态下的好处有：①对产品的质量有完全的把握(通常控制图的控制界限都在规格限之内，故至少有的99.73%的产品是合格的)；②在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济；③在控制状态下，过程的变异最小。
第7题：
A.一般来说，过程能力指数Cpk不小于过程性能指数Ppk
B.过程性能指数只有在过程处于统计控制状态时才能计算
C.过程性能指数可以反映实际状态
D.与数据不是按照时间顺序收集时，计算过程能力指数没有意义
E.当过程能力指数远大于过程性能指数时，说明过程的管理有待加强
第8题：
关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B.Cp仅能用于双侧规范限的情况
C.Cpk可以反映过程中心的偏移
D.一般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
Cp既可用于双侧规范限，也可用于单侧规范限，选项B错误；Cp用于分析短期过程能力的大小，Cpk砷用于分析长期过程能力的大小，两者需结合考虑。
第9题：
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
第10题：
关于电子的说法正确的是：（）
- A、有粒子属性
- B、有波动属性
- C、运动状态要用波函数来描述
- D、以上都对
正确答案:D