综合计量工考试
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
题目
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
- A、0.001mm
- B、0.002mm
- C、0.003mm
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第1题：
对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。
- A、比较法
- B、技术光波干涉法
- C、光隙法
正确答案:C
第2题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
- A、球面干涉
- B、等倾干涉
- C、等厚干涉
正确答案:C
第3题：
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
参考答案：二级;等厚干涉原理
第4题：
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
正确答案:正确
第5题：
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
- A、光波法
- B、光干涉法
- C、光条纹法
- D、干涉条纹法
正确答案:B
第6题：
长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。
- A、用刀口尺以光隙法检定
- B、用平晶以技术光波干涉法分段检定
- C、用自准直仪以节距法检定
正确答案:C
第7题：
某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）
- A、0.01mm
- B、0.02um
- C、0.03um
正确答案:B
第8题：
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
参考答案：B
第9题：
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
正确答案:等厚干涉
第10题：
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。
- A、技术光波干涉法
- B、比较法
- C、光隙法
正确答案:A