技术光波干涉法
比较法
光隙法
第1题:
A、四块
B、一块
C、二块
第2题:
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好
第3题:
第4题:
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。
第5题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
第6题:
用平晶检定千分尺工作面时,如干涉条纹向内跑即为()
第7题:
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
第8题:
第9题:
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
第10题:
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()