检测探头探到试件上的缺陷时,会使测量绕组发生变化的()。
第1题:
第2题:
测量绕组主要用来检测试件中变化的()。
第3题:
A.用双晶直探头测量时,探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行
B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点
C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时,以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点
D.底面第一次底波B1<50%满幅,移动探头使底波上升至50%满幅,以探头中心点为缺陷边界点
第4题:
横波探头在检测过程中,斜楔将会磨损。以下说法错误的是()
第5题:
若桥式探头的各参数固定不动,其探到缺陷时,引起桥路有输出的原因是()。
第6题:
第7题:
下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()
第8题:
第9题:
盲区即由探头到能够检测出缺陷位置的最小()。
第10题:
渗透检测时,试件温度应接近室温,如果试件温度过低,会使()。