簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.
第1题:
第2题:
采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()
第3题:
用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()
此题为判断题(对,错)。
第4题:
磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。
第5题:
磁粉探伤中,为了有效地检出近表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件
第6题:
磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件
第7题:
磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件
第8题:
用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()
第9题:
对方形截面的导电试件,选用涡流探伤时可采用()。
第10题:
斜探头横波探伤时,缺陷声程W已知,则它的水平距离可用()计算。斜探头横波探伤时,缺陷声程已知,则它的垂直距离由公式()计算。