酿酒师
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相似问题和答案
第1题：
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
正确答案: 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有：
吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
第2题：
中级分析工检验开始前应准备好校正过的仪器、相关试剂及标准溶液等。
正确答案:正确
第3题：
化学分析中的系统误差,可以用不同的方法加以校正。()
此题为判断题(对，错)。
参考答案：正确
第4题：
消除试剂误差的方法是（）。
- A、对照实验
- B、校正仪器
- C、选则合适的分析方法
- D、空白试验
正确答案:D
第5题：
用对照分析可以校正由于仪器不精密所造成的误差。
正确答案:错误
第6题：
系统误差是不容易被发现的，更不容易用校正的方法克服。
正确答案:错误
第7题：
减少分析测定中偶然误差的方法为（）。
- A、进行对照试验
- B、进行空白试验
- C、进行仪器校准
- D、进行分析结果校正
- E、增加平行试验次数
正确答案:E
第8题：
在分析试验中，由于环境温度波动，使测量结果产生误差，称为 ________ 误差。而因标准溶液准确度差造成的误差称为 ________ 误差。
正确答案：偶然;系统。
第9题：
定量分析中产生的系统误差是可以校正的误差。
正确答案:正确
第10题：
在分析工作中，由于所使用的温度计未经校正而引起的误差，属于（）误差。
- A、操作
- B、仪器
- C、方法
- D、试剂
正确答案:B