对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。
第1题:
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。
A对
B错
第2题:
对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。
A对
B错
第3题:
高压电源和电子枪应有足够的绝缘和良好的接地。绝缘试验电压应为额定电压的( )。
第4题:
电缆的额定电压应按U0/U选择。下面表述正确的是()。
第5题:
对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。
A对
B错
第6题:
于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。
A升高
B降低
C基本不变
第7题:
对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。
A对
B错
第8题:
第9题:
当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。
A对
B错
第10题:
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。