探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。

第1题：

频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。

第2题：

检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。

第3题：

工件比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。

第4题：

表面波探头用于探测工件（）缺陷。

• A、近表面
• B、表面
• C、内部
• D、平面形

第5题：

在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。

第6题：

工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。

第7题：

对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。

第8题：

渗透探伤时，对表面粗糙的工件宜选用（）型渗透剂，对表面光洁的工件宜选用（）型渗透剂

第9题：

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

第10题：

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。