CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。
第1题:
在用CSK一1A试块进行斜探头入射点和前沿距离的测量时,读数应精确到毫米。()
第2题:
CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。
第3题:
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
此题为判断题(对,错)。
第4题:
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
第5题:
利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。
第6题:
CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
第7题:
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
第8题:
CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()
第9题:
CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。
第10题:
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()