物理学

电子探针与扫描电镜有何异同?电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析?

题目

电子探针与扫描电镜有何异同?电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析?

参考答案和解析
正确答案:电子探针用于成分分析、形貌观察,以成分分析为主;扫描电镜同样用于形貌观察、成分分析,但以形貌观察为主。
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相似问题和答案

第1题:

扫描电镜与透射电镜相比有哪些特点?


正确答案: ①能够与直接观察样品表面的结构,样品尺寸可大至120mm*80mm*50mm;
②样品制备过程简单,不用切成薄片;
③样品可以在样品室作三度空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察;
④景深,图像富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍,比透射电镜大十几倍;
⑤图像的放大范围广,分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射显微镜之间,可达3nm;
⑥电子束对样品的损伤与污染程度较小;
⑦在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作成分分析。

第2题:

不必用超薄切片,不经染色而能观察较厚标本的电镜是()

  • A、一般透射电镜
  • B、扫描透射电镜
  • C、扫描电镜
  • D、超高压电镜

正确答案:D

第3题:

对样品进行表面形貌分析时应使用()。

A、X射线衍射(XRD)

B、透射电镜(TEM)

C、扫描电镜(SEM)


参考答案:C

第4题:

问答题
简述扫描电镜的结构和特点(与TEM进行对比)。

正确答案: SEM主要由电子光学系统、扫描系统、信号收集系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统。
SEM的电子枪和聚光镜与透射式电子显微镜的大致相同,但是为了使电子束更细,在聚光镜下又增加了物镜和消像散器,在物镜内部还装有两组互相垂直的扫描线圈。物镜下面的样品室内装有可以移动、转动和倾斜的样品台。
TEM镜筒的顶部是电子枪,电子由钨丝热阴极发射出、通过第一,第二两个聚光镜使电子束聚焦。电子束通过样品后由物镜成像于中间镜上,再通过中间镜和投影镜逐级放大,成像于荧光屏或照相干版上;SEM的电子束不穿过样品,仅在样品表面扫描激发出二次电子、背散射电子成像。
解析: 暂无解析

第5题:

扫描电镜术观察到的是(),透射电镜技术观察到的是()。


正确答案:物体表面的立体结构;细胞内较细微的结构

第6题:

观察尿液红细胞形态,常采用()

  • A、扫描电镜
  • B、透射电镜
  • C、荧光显微镜
  • D、相差显微镜

正确答案:D

第7题:

电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是()

  • A、普通透射电镜
  • B、普通扫描电镜
  • C、超高压电镜
  • D、扫描透射电镜
  • E、分析扫描电镜

正确答案:C

第8题:

为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异?能否用扫描电镜来观察样品的内部结构,而用透射电镜来观察样品的表面结构?


正确答案: (1)透射电子显微镜的成像原理类似于普通光学显微镜,作为光源的电子束在成像时要穿透样品。由于电子束的穿透力有限,因此在进行透射电镜观察时要求样品一定要薄。而扫描电镜的成像原理类似于电视或电传真照片,图像是通过收集样品表面被激发的二次电子形成的,因此对样品的厚度并无特别的要求。
(2)扫描电镜一般被用于观察样品的表面结构,但通过样品制备过程中的冰冻蚀刻技术,用扫描电镜也可观察到样品的内部结构,获得立体的图像。
(3)透射电镜一般通过超薄切片技术观察样品的内部结构,但通过样品制备过程中的复型技术,用透射电镜也可对样品的表面结构进行观察。

第9题:

问答题
实验室有X射线衍射仪器,扫描电镜,电子探针、透射电镜、X射线光电子能谱仪和差示扫描量热仪等测试仪器,现对非晶块体材料AmBn进行分析: (a)AmBn热稳定性分析; (b)结构分析; (c)物相分析。 试确定实验方案,并指出分析目的。

正确答案: A.差示扫描热议:定量测定多种热力学和动力学参数;
B.透射电镜:目的是对材料的晶体结构进行分析;
C.X射线衍射仪:目的是确定其晶体学参数。
解析: 暂无解析

第10题:

填空题
电子探针的基本工作方式有(),(),()。

正确答案: 点分析,线分析,面分析
解析: 暂无解析