计量检定工考试
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
题目
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
- A、光波法
- B、光干涉法
- C、光条纹法
- D、干涉条纹法
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相似问题和答案
第1题：
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
- A、平面度
- B、平行度
- C、光洁度
- D、准确度
正确答案:A
第2题：
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
正确答案:错误
第3题：
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
参考答案：二级;等厚干涉原理
第4题：
在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。
- A、变凹
- B、变凸
- C、不变
正确答案:A
第5题：
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
正确答案: 对于大于50～150mm千分尺的平行度可以通过Ⅰ、Ⅱ组平行平晶的适当组合进行检定。
1.平行平晶与平行平晶组合法。
2.平行平晶与4等量块组合法。
第6题：
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
正确答案:正确
第7题：
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
第8题：
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）
- A、中凹
- B、中凸
- C、平面
- D、波形
正确答案:A
第9题：
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）
- A、0.03um
- B、0.05um
- C、0.10um
正确答案:C
第10题：
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
正确答案:测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。