电气试验工考试

测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

题目

测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。

  • A、整体受潮
  • B、整体劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷
参考答案和解析
正确答案:A,B,C
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第1题:

介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()


参考答案:错

第2题:

变压器绕组绝缘介质损耗因数与()比较变大或者变小可能是缺陷的反映。


正确答案:原始值

第3题:

介质损耗角正切法能适合发现哪些绝缘缺陷?


参考答案:可以发现绝缘受潮,老化,油和油纸劣化,绝缘中气隙放电等缺陷。

第4题:

测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常()发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。


正确答案:不能

第5题:

介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。


正确答案:错误

第6题:

绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断(),对于判断局部缺陷不灵敏,还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。


正确答案:整体绝缘状况

第7题:

测量介质损耗因数,通常不易发现()。

  • A、整体受潮
  • B、绝缘油劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

正确答案:D

第8题:

当电流互感器末屏绝缘电阻不能满足要求时,可通过测量末屏介质损耗因数作进一步判断,测量电压为2kV,通常要求小于0.015。( )


答案:√

第9题:

测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()

  • A、整体受潮
  • B、整体劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

正确答案:D

第10题:

测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是()

  • A、穿透性导电通道
  • B、降绝缘内含气泡的电离
  • C、受热
  • D、绝缘油脏污、劣化

正确答案:C

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