仪器分析工考试
如果没有搜索结果，请直接 联系老师 获取答案。
相似问题和答案
第1题：
X射线荧光光谱仪高压发生器的作用是：（）。
正确答案:为X射线管提供高压
第2题：
X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
正确答案:正确
第3题：
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
正确答案: 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有：
吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
第4题：
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。
- A、分光晶体
- B、光栅
- C、棱镜
- D、反射镜
正确答案:A
第5题：
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。
正确答案:错误
第6题：
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
正确答案:正确
第7题：
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。
- A、发散
- B、会聚
- C、平行
- D、混合
正确答案:A,C
第8题：
需要外接冷却水的仪器是（）。
- A、光电直读光谱仪
- B、X射线荧光光谱仪
- C、红外碳硫测定仪
正确答案:B
第9题：
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。
- A、能量
- B、波长
- C、半导体
- D、计数
正确答案:A,C
第10题：
X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。
- A、X射线管
- B、高压电源
- C、初级电源
- D、控制器
正确答案:A,B,D