工学
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相似问题和答案
第1题：
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
正确答案: 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有：
吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
第2题：
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
正确答案:错误
第3题：
用标准加入法作为原子吸收的定量方法时，下述中被消除的干扰有
A、分子吸收
B、背景吸收
C、光散射
D、基体效应
E、光路干扰
参考答案：D
第4题：
原子吸收的定量方法—标准加入法可消除的干扰是（）
- A、分子吸收；
- B、背景吸收；
- C、基体效应；
- D、物理干扰。
正确答案:C
第5题：
抑制基体效应的方法。
正确答案:（1） 化学分离；
（2） 用内标法；
（3） 匹配法。
第6题：
在原子发射光谱分析法中，选择激发电位相近的分析线对是为了（）
- A、减小基体效应
- B、提高激发几率
- C、消除弧温的影响
正确答案:C
第7题：
什么叫做基体效应？
正确答案:基体效应就是共存元素对被测元素的影响
第8题：
若原子吸收的定量方法为标准加入法时 , 消除了下列哪种干扰? ( )
A.分子吸收
B.背景吸收
C.光散射
D.基体效应
参考答案：D
第9题：
基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有（）法等。
- A、稀释
- B、薄膜样品
- C、吸收校正
- D、数学处理
正确答案:A,B,C,D
第10题：
原子吸收的定量方法——标准加入法，消除了下列哪种干扰？（）
- A、分子吸收
- B、背景吸收
- C、光散射
- D、基体效应
正确答案:B,D