工学

问答题背景吸收和基体效应都与试样的基体有关,试分析它们的不同之处。

题目
问答题
背景吸收和基体效应都与试样的基体有关,试分析它们的不同之处。
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第1题:

若原子吸收的定量方法为标准加入法时 , 消除了下列哪种干扰? ( )

A.分子吸收

B.背景吸收

C.光散射

D.基体效应


参考答案:D

第2题:

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。


正确答案: 基体:就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有:
吸收—增强效应,在复杂的样品中,元素间的相互影响,引起IK的变化;
非均匀效应,该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等;
表面效应,由于表面不平整,大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法:使用与未知样基体组成相似的标准样品,常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性(或二次曲线)
薄试样法:当试样的厚度仅为几百或几千埃时,其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和(或)添加重吸收剂,使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法:在试样内加入已知量的内标元素,该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似;在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间,不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法:在未知样中加入一定量的待测元素,比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化;常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法:试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似,也就是说,它们的强度比与试样无关;所选的散射线可以是:X光管靶材的相干和非相干散射线,试样对原级谱的连续谱的散射(即背景);所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线,所选散射线有足够的强度。

第3题:

用标准加入法作为原子吸收的定量方法时,下述中被消除的干扰有

A、分子吸收

B、背景吸收

C、光散射

D、基体效应

E、光路干扰


参考答案:D

第4题:

基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有()法等。

  • A、稀释
  • B、薄膜样品
  • C、吸收校正
  • D、数学处理

正确答案:A,B,C,D

第5题:

原子吸收的定量方法-标准加入法,消除了下列哪些干扰()。

  • A、基体效应
  • B、背景吸收
  • C、光散射
  • D、电离干扰

正确答案:A

第6题:

什么叫分析测试的基体效应?对测定结果有何影响?


正确答案: 在环境样品中、各种环境污染物的浓度一般都是ppm或ppb级水平,而大量存在的其他物质为基体。单一组份的标准溶液与实际样品间的基体差异很大,把标准溶液作为标准来测定实际样品时,常会产生很大的误差。这种由于基体因素给测定结果带来的影响即是基体效应。在环境监测中,标准溶液与待测样品一般都在相同条件下进行比较测定,由于基体的差异不可避免基体效应存在正或负的影响,使测定结果偏高或偏低。

第7题:

X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。

  • A、气体
  • B、惰性
  • C、分析
  • D、氧化性

正确答案:C

第8题:

在原子吸收分光光度法中,与原子化器有关的干扰为()。

A.背景吸收

B.基体效应

C.火焰成份对光的吸收

D.雾化时的气体压力


参考答案:AC

第9题:

原子吸收法测定中背景吸收的来源是由试样中基体物质在原子化过程中产生的分子吸收和光散射以及共存元素的原子吸收、火焰气体吸收等


正确答案:正确

第10题:

在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


正确答案:正确

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