理学
问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。
题目
问答题
简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。
参考答案和解析
正确答案：
（1）荧光X射线的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。测出荧光X射线的波长或能量，就可以知道元素的种类（定性分析基础）。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系（定量分析基础）。
（2）定性分析：根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。定量分析：定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。
（2）定性分析：根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。定量分析：定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。
解析：
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相似问题和答案
第1题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
正确答案:错误
第2题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
正确答案:正确
第3题：
影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。
参考答案：试样基体效应;试样均匀性;光谱的干扰
第4题：
简述x、γ射线照相的基本原理。
正确答案: 由于射线具有穿透物质，在物质中具有衰减作用和衰减规律，能使某些物质产生光化学作用和荧光现象等性质。当射线穿过工件达到胶片上，由于无缺陷部位和有缺陷处的密度或厚度不同，射线在这些部位的衰减不同，因而射线透过这些部位照射到胶片上的强度也不同，致使胶片感光程度不同，经暗室处理后就产生了不用程度的黑度。根据底片上的黑度差，即可断定缺陷的有无。
第5题：
以下说法错误的是（）
- A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人
- B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋
- C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行
- D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
正确答案:A
第6题：
简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
正确答案: （1）取样要能代表总体样品，即有代表性。
（2）保持加工表面光洁，不能出现多孔、偏析和夹杂物。
（3）表面加工要求试样与标准参比样严格保持一致。
（4）表面加工过程中的应避免污染。
（5）金属样品抛光后应立即进行测量，以便防止金属表面氧化或污染
第7题：
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
正确答案:正确
第8题：
电网设备的光谱分析检验常用哪种设备（）
- A、看谱镜
- B、光电光谱分析仪
- C、手持式X射线光谱仪
- D、荧光光谱仪
正确答案:C
第9题：
按照电磁辐射的本质来分，光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法，属于原子光谱分析法的有（）
- A、化学发光
- B、原子荧光
- C、核磁共振
- D、X射线荧光
正确答案:B,D
第10题：
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
正确答案:增强-吸收