理学
问答题X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同？分别有怎样的适用性？
题目
问答题
X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同？分别有怎样的适用性？
参考答案和解析
正确答案：
光电子的能量分布曲线：采用特定元素某一X光谱线作为入射光，实验测定的待测元素激发出一系列具有不同结合能的电子能谱图，即元素的特征谱峰群；
应用：（1）元素定性分析（2）元素定量分析（3）固体化合物表面分析（4）化学结构分析
X射线荧光分析：X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。
应用：（1）定性分析；（2）定量分析；（3）可测原子序数5~92的元素，可多元素同时测定。
应用：（1）元素定性分析（2）元素定量分析（3）固体化合物表面分析（4）化学结构分析
X射线荧光分析：X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。
应用：（1）定性分析；（2）定量分析；（3）可测原子序数5~92的元素，可多元素同时测定。
解析：
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相似问题和答案
第1题：
简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
正确答案: （1）取样要能代表总体样品，即有代表性。
（2）保持加工表面光洁，不能出现多孔、偏析和夹杂物。
（3）表面加工要求试样与标准参比样严格保持一致。
（4）表面加工过程中的应避免污染。
（5）金属样品抛光后应立即进行测量，以便防止金属表面氧化或污染
第2题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
正确答案:正确
第3题：
影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。
参考答案：试样基体效应;试样均匀性;光谱的干扰
第4题：
以下说法错误的是（）
- A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人
- B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋
- C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行
- D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
正确答案:A
第5题：
X射线摄影和X射线透视的基本原理是什么？它们有哪些特点？
正确答案:不同组织对X射线的吸收能力不同，均匀入射的X射线穿透人体后，出射的X射线将不均匀，使荧光屏或X射线胶片上显示出明暗不同或黑白不同的影像，对X射线吸收强的组织对应暗影像，吸收弱的组织对应亮影像。这就是X射线摄影和透视的基本原理。X射线摄影将影像记录在胶片上，便于查阅且图像清晰，空间分辨力高，避免了X射线对检查者的照射。X射线透视具有直观、方便、简单、费用低廉的优点，但不能留下客观记录，且由于影像转换、荧光物质颗粒大、人眼视觉敏感性差，影像细节分辨力差。另外，检查者不可避免X射线的照射。
第6题：
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
正确答案:错误
第7题：
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
正确答案:正确
第8题：
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
正确答案:错误
第9题：
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）
- A、原子荧光分析法
- B、X射线荧光分析法
- C、X射线吸收分析法
- D、X射线发射分析法
正确答案:B
第10题：
按照电磁辐射的本质来分，光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法，属于原子光谱分析法的有（）
- A、化学发光
- B、原子荧光
- C、核磁共振
- D、X射线荧光
正确答案:B,D