当每扇区2载频时,广覆盖低损配置采用EDU或双CDU,其发射损耗均为1.0dB,一般配置采用CDU(损耗为4.5dB.;
当每扇区4载频时,广覆盖低损配置采用的CDU+CDU(损耗为4.5dB.,一般配置采用CDU+SCU(损耗为8.0dB.;
C、当每扇区6载频时,一般配置采用CDU+CDU+SCU方式(其中2载频插损4.5d4载频插损8.0dB,可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题),特殊低损配置采用CDU+CDU+CDU方式(损耗为4.5dB,需要2根单极化天线);
当每扇区8载频时,一般采用双CDU+双SCU方式(载频插损8.0dB.,有覆盖要求的低损方案采用3CDU+SCU方式(低损载频损耗为4.5dB,可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题,但需要4幅天线)。
第1题:
A.频率资源允许的情况下预留2~3频点,用于市区高层基站,其他基站仍旧按照常规频率复用方式规划;
B.使用多层频率复用方式(MRP)并结合同心圆及相应的信道分配算法,利用BCCH和TCH合路损耗的差异,使得基站远端用户占用TCH载频,基站近端用户占用BCCH载频,以此同时满足覆盖和容量需求;
C.使用多层频率复用方式(MRP)并结合同心圆及相应的信道分配算法,利用BCCH和TCH合路损耗的差异,使得基站近端用户占用TCH载频,基站远端用户占用BCCH载频,以此同时满足覆盖和容量需求;
D.都不选用;
第2题:
时隙配置对网络规划的影响,下列描述正确的是()
A、时隙规划要满足系统共存的要求
B、时隙规划会影响网络的覆盖
C、时隙规划会影响网络的容量
D、时隙规划与业务无关
第3题:
A.当每扇区2载频时,广覆盖低损配置采用EDU或双CDU,其发射损耗均为1.0dB,一般配置采用CDU(损耗为4.5dB.;
B.当每扇区4载频时,广覆盖低损配置采用的CDU+CDU(损耗为4.5dB.,一般配置采用CDU+SCU(损耗为8.0dB.;
C.当每扇区6载频时,一般配置采用CDU+CDU+SCU方式(其中2载频插损4.5dB.4载频插损8.0dB,可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题),特殊低损配置采用CDU+CDU+CDU方式(损耗为4.5dB,需要2根单极化天线);
D.当每扇区8载频时,一般采用双CDU+双SCU方式(载频插损8.0dB.,有覆盖要求的低损方案采用3CDU+SCU方式(低损载频损耗为4.5dB,可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题,但需要4幅天线)。
第4题:
第5题:
第6题:
下列关于测试方法,说法正确的是 ______。
A.白盒测试不同于黑盒测试之处是它可以减少测试用例数量
B.覆盖所有独立路径就能够覆盖所有分支
C.在单元测试中不使用黑盒测试技术
D.满足分支覆盖就满足条件覆盖和语句覆盖
第7题:
A.功分器输入输出倒过来用就是合路器
B.合路器各端口频率不同,功分器各端口频率相同
C.功分器与合路器隔离度相同
D.合路器可以取代功分器
第8题:
A.错误
B.正确
第9题:
第10题: