某电子产品的寿命服从指数分布，为估计该产品的MTBF，进行定时截尾寿命试验，即试验进行到规定的时间停止，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有( )。 A.投入寿命试验的产品数 B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间 C.正态分布临界值 D. x2的分布临界值 E.发生的故障数

题目

某电子产品的寿命服从指数分布，为估计该产品的MTBF，进行定时截尾寿命试验，即试验进行到规定的时间停止，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有( )。
A.投入寿命试验的产品数
B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间
C.正态分布临界值
D. x2的分布临界值
E.发生的故障数

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第1题：

某系统由A、B、C 3个子系统串联而成，它们的寿命均服从指数分布，其中子系统A、B的MTBF分别是200h、400h。现要求系统的MTBF在100h以上，则子系统C的MTBF至少为(3)h。

A．50

B．200

C．400

D．700

正确答案：C
解析：利用公式MTBF=[*]可分别计算出A、B这2个子系统的λa、λb和整个系统的λ。[*]然后再根据公式λ=λa+λb+λc计算出：λc=λ-λa-λb=0.01-0.005-0.0025=0.0025最后利用公式MTBF=[*]计算出于系统C的MTBF值为400h。

第2题：

某可修复产品故障的发生服从指数分布Exp(λ),故障率λ= 0.002/h，则该产品的平均故障间隔时间MTBF=( )。
A.50 h B. 200 h
C.500 h D.2 000 h

答案：C

解析：

。可修复产品故障的发生服从指数分布时，MTBF=1/λ = 1/0.002 = 500h。

第3题：

可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平，方法是投入若干产品进行寿命试验，可分为( )。

A．可靠性增长试验

B．定时截尾试验

C．恒定应力加速寿命试验

D．定数截尾试验

E．环境应力试验

正确答案：BD

第4题：

某产品寿命服从指数分布，即f（t）＝λe﹣u（t≥0），则下列说法中，正确的有（）。
A.该产品的可靠度函数为1－e﹣u
B.该产品的不可靠度函数为e﹣u
C.该产品的可靠度函数为e﹣u
D.该产品的故障率为λ
E.该产品的MTBF＝= 1/λ

答案：C,D,E

解析：

第5题：

在产品的失效时间服从指数分布，f(t)=λ﹣λt,λ＞0时,有( )。

A.R(t)=1－e－λt

B.MTBF=1/λ

C. MTTF=MTBF

D.失效率为λ

E. MTBF=MTTR

答案：B,C,D

解析：

。R(t)=e-λt所以选项A错误。

第6题：

一系统由A、B、C三个子系统串联而成，它们的寿命均服从指数分布，其中A、B的MTBF分别是200h、400h。现要求系统的MTBF在100h以上，则子系统C的MTBF至少为(3)h。

A．50

B．200

C．400

D．700

正确答案：C
解析：利用公式MTBF=可分别计算出A、B，这两个子系统的λa、λb和整个系统的λ。然后再根据公式λ＝λa+λb+λc计算出λc＝λ-λa-λb＝0.01-0.005-0.0025＝0.0025最后利用公式MTBF=计算出子系统C的MTBF值=400h。

第7题：

某电子产品由4个部件组成，其中某个部件故障就会导致该产品故障，若假定故障的发生时间服从指数分布，并已知每个部件的故障率分别为：λ1 =0. 000 7/h，λ2 = 0.000 4/h, λs=0. 000 3/h, λ4 =0. 0001/h。
该电子产品的MTBF为（）。
A. 3 333 h B. 2 500 h
C, I 429 h D. 667 h

答案：D

解析：

第8题：

下列关于可靠性鉴别试验的说法，不正确的是( )。

A．θ0、θ1，分别是MTBF检验的上限值和下限值

B．定时截尾的可靠性鉴定试验的时间越短，风险越高

C．同样风险的情况下，鉴别比越小，试验时间越短

D．定时截尾的可靠性鉴定试验只要求累计试验时间，试验的产品数可视情况自定

正确答案：C
解析：可靠性鉴定试验中，风险越高，试验的时间越短，反之亦然。而在同样风险的情况下，鉴别比越小，试验时间越长。

第9题：

在可靠性鉴定试验中，寿命服从指数分布的定时截尾试验方案与（）有关。
A.生产方风险 B.使用方风险
C.技术水平 D.费效比
E.鉴别比

答案：A,B,E

解析：

第10题：

对于不可修复的电子产品而言，产品平均寿命是指该产品从开始使用到（）的平均时间。

正确答案:发生失效

质量工程师

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