第1题:
简述大块非晶合金的制备方法。
第2题:
简述快速凝固技术、大块非晶制备技术
第3题:
对RTP来说,很难在高温下处理大直径晶圆片而不在晶圆片边缘造成热塑应力引起的滑移。分析滑移产生的原因。如果温度上升速度加快后,滑移现象变得更为严重,这说明晶圆片表面上的辐射分布是怎样的?
第4题:
微晶玻璃的制备原理及其工艺过程。
第5题:
简述非晶氢化氮化硅(α-SiNx:H)薄膜的优点及其制备工艺。
第6题:
集成电路的主要制造流程是()
第7题:
刻蚀要求在整个晶圆上有一个均匀的刻蚀速率,()是在晶圆上由测量刻蚀过程前后特定点的厚度,并计算这些点的刻蚀速率而得到的。
第8题:
沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。
第9题:
简述炼乳乳糖晶种的制备。
第10题:
一轴晶光率体的圆切面()。