对
错
第1题:
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
A对
B错
第2题:
为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ,对反映局部缺陷并不灵敏?
第3题:
A、绝缘受潮
B、绝缘脏污
C、绝缘部分击穿
D、绝缘中存在气隙放电
第4题:
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
第5题:
检测电力设备局部放电的目的在于反映其()。
第6题:
绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断(),对于判断局部缺陷不灵敏,还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。
第7题:
变压器绕组绝缘介质损耗因数与()比较变大或者变小可能是缺陷的反映。
第8题:
第9题:
测量介质损耗因数,通常不易发现()。
第10题:
当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。